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高性能場發(fā)射掃描電鏡
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- 更新日期：2023-03-20
- 產(chǎn)品介紹：Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能場發(fā)射掃描電鏡搭載*的實(shí)時(shí)元素成像功能和先進(jìn)的自動(dòng)光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)灰色區(qū)域解析，讓您不再憂心顯微鏡性能，更加專注于研究本身。
- 廠商性質(zhì)：代理商
產(chǎn)品介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 場發(fā)射 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,石油 |
Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能場發(fā)射掃描電鏡搭載*的實(shí)時(shí)元素成像功能和先進(jìn)的自動(dòng)光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)灰色區(qū)域解析，讓您不再憂心顯微鏡性能，更加專注于研究本身。
Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能場發(fā)射掃描電鏡具有多功能性和高質(zhì)量成像性能，采用了創(chuàng)新性的末級透鏡設(shè)計(jì)，引入靜電式末級透鏡，支持鏡筒內(nèi)高分辨率檢測，即使是針對磁性樣品也可實(shí)現(xiàn)成像及分析性能。全新Apreo 2 SEM在原有性能基礎(chǔ)之上，新一步優(yōu)化了超高分辨成像能力，并且增設(shè)許多新功能提升其易用性。Apreo 2 SEM在耐用的SEM平臺(tái)上引入了SmartAlign（智能對中）技術(shù)，不再需要用戶手動(dòng)進(jìn)行調(diào)整操作，而且，F(xiàn)LASH自動(dòng)執(zhí)行精細(xì)調(diào)節(jié)工作，只需移動(dòng)鼠標(biāo)幾次，就可以完成必要的透鏡居中、消像散和聚焦矯正。此外，Apreo 2 SEM在10mm分析工作距離下具有1nm分辨率的SEM，遠(yuǎn)的工作距離不再意味著低分辨成像，系統(tǒng)還可升級實(shí)時(shí)元素譜/圖成像功能，幾十年來傳統(tǒng)SEM-EDS固有的元素分析流程，將元素分析效率提升2倍有余。 Apreo 2 SEM，任何用戶都可以輕松地得到分析效果。
☆ 全面解析
全面的納米和亞納米分辨率性能，適用于納米顆粒、粉末、催化劑、納米器件、大塊磁性樣品等材料；
☆ 靈活性
非常靈活的處理范圍廣泛的樣品類型，包括絕緣體，敏感材料，或磁性樣品，并收集對您的應(yīng)用重要的數(shù)據(jù)；
☆ SmartAlign技術(shù)
使用SmartAlign技術(shù)(智能調(diào)整光學(xué)系統(tǒng))，實(shí)現(xiàn)光學(xué)系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整，減少維護(hù)時(shí)間；
☆ 先進(jìn)的自動(dòng)化
先進(jìn)的自動(dòng)化包括FLASH自動(dòng)圖像微調(diào)、撤銷、用戶向?qū)?、Maps成像拼接的FLASH技術(shù)；
☆ 實(shí)時(shí)定量EDS
元素信息觸手可及，利用ColorSEM技術(shù)，提供實(shí)時(shí)元素面分布成像定量分析，結(jié)果獲取更加快速、簡便；
☆ 標(biāo)準(zhǔn)工作流操作
內(nèi)置了User Guidance（用戶工作流）功能，無論是初學(xué)者還是經(jīng)驗(yàn)豐富，都能夠快速上手，并穩(wěn)定獲取實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。
